Messtechnik

REM Aufnahme

REM (Rasterelektronenmikroskopie)

Ein großer Vorteil der Rasterelektronenmikroskopie (REM) liegt in den Möglichkeiten der Analyse von Elementen mittels energie- oder wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (EDX/ WDX). Sowohl EDX als auch WDX dienen der qualitativen und quantitativen Bestimmung von Elementkonzentrationen in Mikrovolumina an Festkörpern.
FTIR

FTIR (Fourier-Transform-Infrarot)

Die IR-Spektroskopie ist ein Zweig der Spektroskopie, der sich der Absorption von Strahlung durch chemische Substanzen im Bereich der Infrarotstrahlung bedient und sich vornehmlich mit der Strukturaufklärung in der organischen Chemie befasst. Die IR-Spektroskopie wird vorwiegend zur Identifikation von Kunststoffen, wie z.B. Thermoplasten, Elastomeren, Duroplasten, Gummi, Lacken, Klebstoffen, etc. eingesetzt.
XRF

XRF (X-ray Fluorescence)

Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist eine Methode aus der Materialanalytik. Sie ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der elementaren Zusammensetzung und der Schichtdickenmessung an einer Probe.