English

Messtechnik

REM (Rasterelektronenmikroskopie)

Ein großer Vorteil der Rasterelektronenmikroskopie (REM) liegt in den Möglichkeiten der Analyse von Elementen mittels energie- oder wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie (EDX/ WDX). Sowohl EDX als auch WDX dienen der qualitativen und quantitativen Bestimmung von Elementkonzentrationen in Mikrovolumina an Festkörpern.
REM Aufnahme
REM Aufnahme

FTIR (Fourier-Transform-Infrarot)

Die IR-Spektroskopie ist ein Zweig der Spektroskopie, der sich der Absorption von Strahlung durch chemische Substanzen im Bereich der Infrarotstrahlung bedient und sich vornehmlich mit der Strukturaufklärung in der organischen Chemie befasst. Die IR-Spektroskopie wird vorwiegend zur Identifikation von Kunststoffen, wie z.B. Thermoplasten, Elastomeren, Duroplasten, Gummi, Lacken, Klebstoffen, etc. eingesetzt.
FTIR
FTIR

XRF (X-ray Fluorescence)

Die Röntgenfluoreszenzanalyse ist eine Methode aus der Materialanalytik. Sie ist eine der am häufigsten eingesetzten Methoden zur qualitativen und quantitativen Bestimmung der elementaren Zusammensetzung und der Schichtdickenmessung an einer Probe.
XRF
Bestimmung der Zusammensetzung

Angebot anfordern

Kombinierte Prüfungen

  • Burn-in und Run-in: z.B. für Keramikkondensatoren nach MIL-STD-202
  • Temperaturwechel mit überlagerter elektrischer Last: bis -50°C und 1,5 kW elektrische Verlustleistung des Prüfobjekts, z.B. Prüfung nach VW 801.01 Life Cycle, Internal Power Cycling
  • Klima- und Klimawechseltest mit überlagerter elektrischer Last zur Bewertung der Korrosionsbeständigkeit und Kriechstromfestigkeit z.B. CAF-Test nach IPC-9691
  • Kontaktprüfung, z.B. Milliohmmessung bis 0,1 µOhm und Isolationsfestigkeit bis 2x1015 Ohm unter Klimaeinwirkung
  • Ableitfähigkeit von ESD-Materialien
Kombinierte Prüfung
Kombinierte Prüfung

Angebot anfordern

KontaktReferenzenImpressumDatenschutzfacebook logogoogle+ logoyoutube logo